如何测量 ULN SAW 振荡器的相位噪声
Rakon ULN SAW滤波器在 300 MHz 以上的频率下表现出卓越的相位噪声性能。
这种相位噪声的测量并不明显。最常见的技术是使用 PLL 将被测振荡器的相位噪声与具有相似或卓越噪声性能的参考振荡器进行比较。乘法晶体振荡器不是测量 ULN SAW 振荡器的合适参考振荡器，因为在相同频率下，其本底噪声通常大于 SAW 振荡器的本底噪声。
类似于被测 SAW 振荡器的 SAW 振荡器是当今最好的参考振荡器。测得的相位噪声是两个振荡器（被测振荡器和参考振荡器）的相位噪声的二次方和。如果我们可以假设每个振荡器的噪声贡献相等，则 DUT 的相位噪声是测得的相位噪声减去 3 dB。
测试台的残余相位噪声也可能主要在本底噪声水平上影响测得的相位噪声。这就是为什么测试台架制造商建议采用多通道测量和/或互相关技术，以消除测试台的限制。
Rakon晶振已在以下测试台上执行了 SAW 振荡器相位噪声测量：
1、来自 NoiseXT 的 DCNTS
2、来自 NoiseXT（前身为 Europtest，Aeroflex 公司的子公司）的 PN9000
3、安捷伦的 E5052B
比较测量的主要结论如下：
1、最好的结果是使用 DCNTS。使用每个通道的 3 个相似的 ULN SO 作为每个通道和公共 DUT（射频输入）的 LO，双通道测量和互相关技术完全消除了残余噪声和测试台的限制（残余本底噪声约为 -195 dBc/Hz）。测得的 PN 是 DUT 的真实 PN。Leeson 的模型与测量值完美吻合。
2、PN9000 可以被描述为 DCNTS 的一个通道。使用 2 个相似的 ULN SO 作为参考 （LO） 和 DUT，显示的 PN 是两个振荡器的 PN + 测试台的残差 PN 的二次和。本底噪声的限值约为 -175 dBc/Hz。每个振荡器的单个 PN 无法直接实现。尽管如此，它等于或优于显示的曲线。
3、E5052B 不适用于测量 ULN SO 的 PN。DUT 只需要 1 个 ULN SO，但测试台的内部参考（从乘以的 XO 得出）限制了 [2 kHz – 300 kHz] 范围内偏移的相位噪声测量，即使有 10,000 个相关性（“隔夜测量”）。绘制的相位噪声仅代表 DUT 的相位噪声，仅适用于近端或远端偏移。对于 [2 kHz – 300 kHz] 范围内的偏移，显示的 PN 是内部参考的 PN。
测量图
这种相位噪声的测量并不明显。最常见的技术是使用 PLL 将被测振荡器的相位噪声与具有相似或卓越噪声性能的参考振荡器进行比较。乘法晶体振荡器不是测量 ULN SAW 振荡器的合适参考振荡器，因为在相同频率下，其本底噪声通常大于 SAW 振荡器的本底噪声。
类似于被测 SAW 振荡器的 SAW 振荡器是当今最好的参考振荡器。测得的相位噪声是两个振荡器（被测振荡器和参考振荡器）的相位噪声的二次方和。如果我们可以假设每个振荡器的噪声贡献相等，则 DUT 的相位噪声是测得的相位噪声减去 3 dB。
测试台的残余相位噪声也可能主要在本底噪声水平上影响测得的相位噪声。这就是为什么测试台架制造商建议采用多通道测量和/或互相关技术，以消除测试台的限制。
Rakon晶振已在以下测试台上执行了 SAW 振荡器相位噪声测量：
1、来自 NoiseXT 的 DCNTS
2、来自 NoiseXT（前身为 Europtest，Aeroflex 公司的子公司）的 PN9000
3、安捷伦的 E5052B
比较测量的主要结论如下：
1、最好的结果是使用 DCNTS。使用每个通道的 3 个相似的 ULN SO 作为每个通道和公共 DUT（射频输入）的 LO，双通道测量和互相关技术完全消除了残余噪声和测试台的限制（残余本底噪声约为 -195 dBc/Hz）。测得的 PN 是 DUT 的真实 PN。Leeson 的模型与测量值完美吻合。
2、PN9000 可以被描述为 DCNTS 的一个通道。使用 2 个相似的 ULN SO 作为参考 （LO） 和 DUT，显示的 PN 是两个振荡器的 PN + 测试台的残差 PN 的二次和。本底噪声的限值约为 -175 dBc/Hz。每个振荡器的单个 PN 无法直接实现。尽管如此，它等于或优于显示的曲线。
3、E5052B 不适用于测量 ULN SO 的 PN。DUT 只需要 1 个 ULN SO，但测试台的内部参考（从乘以的 XO 得出）限制了 [2 kHz – 300 kHz] 范围内偏移的相位噪声测量，即使有 10,000 个相关性（“隔夜测量”）。绘制的相位噪声仅代表 DUT 的相位噪声，仅适用于近端或远端偏移。对于 [2 kHz – 300 kHz] 范围内的偏移，显示的 PN 是内部参考的 PN。
测量图
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